財團法人工業技術研究院 / 量測中心 ITRI / Center for Measurement Standards 展05

本次展出

 AOI設備

   光學系統

   像系統

  影像分析

○  運動控制

   其他

展品資料

 

非接觸式片電阻量測模組:非接觸式片電阻量測模組利用電磁原理,藉由電磁場與材料之耦合關係,達成非接觸量測待測物阻抗特性,相較於傳統探針接觸式量測樣品阻抗之方法,具有可避免樣品損傷,量測速度快,能在高速移動下量測待測物片電阻均勻性等優點,可應用於製程線上檢測,回饋製程參數調整。

展品圖

 

      

 

基本資料

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新竹市光復路2段321號

業務聯絡人

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陳俊賢

 

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公司介紹

公司性質

 

AOI測試服務/技術顧問

公司簡介

 

量測技術發展中心在標準檢驗局與工業技術研究院的共同推動下,於1985年成立。以提升國內業界產品品質,引領產業發展為目標,量測中心運用多年來累積的專業技術與知識,積極推動標準與技術發展、標準與法定計量技術發展、儀器與感測技術發展、計量驗證與創新應用、醫療器材驗證、以及前瞻感測技術發展。

AOI主力產品

 

1. 光學薄膜厚度量測儀
2. 液晶顯示器Cell Gap量測儀
3. 高光譜儀/微型光譜儀
4. 二維彩色分析儀
5.  Win8 & 10觸控面板驗證測試設備
6.  半導體TSV及膜厚量測設備
7.  LTPS結晶均勻性檢測設備
8.  自動化霧度量測儀
9.  R2R透明材質 2D/3D缺陷檢測系統
10. 差分干涉顯微系統
11. 軸件量測系統
12. 非接觸電阻量測系統
13. 晶圓翹曲量測系統
14. 晶圓凸塊及顯示器光間隙子高度量測系統